पी टाइप एम12 मोनोक्रिस्टलाइन सोलर वेफर

पी टाइप एम12 मोनोक्रिस्टलाइन सोलर वेफर
उत्पाद का परिचय:
2019 में, M12 (210mm x 210mm) p-टाइप मोनो वेफर्स (295mm व्यास सिलिकॉन इंगोट) को लॉन्च किया गया था। 6 ”प्रारूप M2 (156.75mm x 156.75mm) M12 और M6 द्वारा रखे जाने की उम्मीद थी।
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विवरण
तकनीकी पैरामीटर


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


2019 में, M12 (210mm x 210mm) p-टाइप मोनो वेफर्स (295mm व्यास सिलिकॉन इंगोट) को लॉन्च किया गया था। 6” प्रारूप M2 (156.75mm x 156.75mm) M12 और M6 द्वारा रखे जाने की उम्मीद है।


1 भौतिक विशेषताएं

संपत्ति

विनिर्देश

निरीक्षण विधि

विकास विधि

सीजेड


स्फटिकता

monocrystalline

तरजीही नक़्क़ाशी तकनीकएएसटीएम F47-88

चालकता प्रकार

पी-प्रकार

नैप्सन ईसी-८०टीपीएन

P/N

दोपंत

बोरॉन, गैलियम

-

ऑक्सीजन सांद्रता [Oi]

≦8ई+17 at/सेमी3

एफटीआईआर (एएसटीएम एफ121-83)

कार्बन सांद्रता [Cs]

5E+16 at/cm3

एफटीआईआर (एएसटीएम एफ123-91)

खोदना गड्ढे घनत्व (अव्यवस्था घनत्व)

500 सेमी-3

तरजीही नक़्क़ाशी तकनीकएएसटीएम F47-88

सतह उन्मुखीकरण

[जीजी] लेफ्टिनेंट; १०० [जीजी] जीटी; ± ३ डिग्री

एक्स-रे विवर्तन विधि (एएसटीएम F26-1987)

छद्म वर्गाकार भुजाओं का उन्मुखीकरण

[जीजी] लेफ्टिनेंट;010 [जीजी] जीटी;, [जीजी] लेफ्टिनेंट;001 [जीजी] जीटी;±3°

एक्स-रे विवर्तन विधि (एएसटीएम F26-1987)

2 विद्युत गुण

संपत्ति

विनिर्देश

निरीक्षण विधि

प्रतिरोधकता

0.5-1.5 सेमी

वेफर निरीक्षण प्रणाली

एमसीएलटी (अल्पसंख्यक वाहक जीवनकाल)

50 μs

सिंटन बीसीटी-400

(इंजेक्शन स्तर के साथ: 1E15 से। मी-3)

3ज्यामिति

संपत्ति

विनिर्देश

निरीक्षण विधि

ज्यामिति

पूर्ण वर्ग


वेफर साइड की लंबाई

२१० ± ०.२५ मिमी

वेफर निरीक्षण प्रणाली

वेफर व्यास

φ295 ± 0.25 मिमी

वेफर निरीक्षण प्रणाली

आसन्न भुजाओं के बीच का कोण

90° ± 0.2°

वेफर निरीक्षण प्रणाली

मोटाई

18020/10 µm;

17020/10 µm

वेफर निरीक्षण प्रणाली

टीटीवी (कुल मोटाई भिन्नता)

27 µm

वेफर निरीक्षण प्रणाली


210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

4 सतह के गुण

संपत्ति

विनिर्देश

निरीक्षण विधि

काटने की विधि

डीडब्ल्यू

--

सतही गुणवत्ता

जैसा कि कट और साफ किया गया है, कोई दृश्य संदूषण नहीं है, (तेल या ग्रीस, उंगलियों के निशान, साबुन के दाग, घोल के दाग, एपॉक्सी / गोंद के दाग की अनुमति नहीं है)

वेफर निरीक्षण प्रणाली

देखा निशान / कदम

≤ 15µm

वेफर निरीक्षण प्रणाली

धनुष

≤ 40 µm

वेफर निरीक्षण प्रणाली

ताना

≤ 40 µm

वेफर निरीक्षण प्रणाली

टुकड़ा

गहराई 0.3 मिमी और लंबाई ≤ 0.5 मिमी अधिकतम 2 / पीसी; कोई वी-चिप नहीं

नग्न आंखें या वेफर निरीक्षण प्रणाली

सूक्ष्म दरारें / छेद

अनुमति नहीं हैं

वेफर निरीक्षण प्रणाली




 

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