पी टाइप 166mm मोनोक्रिस्टलाइन सोलर वेफर

पी टाइप 166mm मोनोक्रिस्टलाइन सोलर वेफर

223mm के व्यास के साथ 166mmx166mm M6 मोनोक्रिस्टलाइन सिलिकॉन सोलर वेफर एम2 वेफर से 12.21% बड़ा है।
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विवरण
तकनीकी पैरामीटर


166mmx166mm solar wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


223mm के व्यास के साथ 166mmx166mm M6 मोनोक्रिस्टलाइन सिलिकॉन सोलर वेफर एम2 वेफर से 12.21% बड़ा है। तो M6 सब्सट्रेट से बने सौर कोशिकाओं में एम 2 सब्सट्रेट से बने 12.21% अधिक बिजली उत्पादन होगा।


1      सामग्री गुण

 

जायदाद

विस्‍तृत जानकारी

निरीक्षण विधि

विकास विधि

सीजेड


क्रिस्टलिनिटी

मोनोक्रिस्टलाइन

 

तरजीही Etch तकनीकASTM F47-88

चालकता प्रकार

पी-प्रकार

नैपसन ईसी-80TPN

P/N

डॉपैंट

 

बोरोन, गैलियम

 

-

ऑक्सीजन एकाग्रता [ओय]

≦8ई + 17 पर/सेमी3

FTIR (ASTM F121-83)

कार्बन एकाग्रता [सीएस]

5E + 16 पर/सेमी3

FTIR (ASTM F123-91)

Etch गड्ढे घनत्व (अव्यवस्था घनत्व)

500 सेमी-3

तरजीही Etch तकनीकASTM F47-88

सतह अभिविन्यास

<100>±3°

एक्स-रे विवर्तन विधि (ASTM F26-1987)

छद्म वर्ग पक्षों का अभिविन्यास

<010>,<001>±3°

एक्स-रे विवर्तन विधि (ASTM F26-1987)

 

2      विद्युत गुण

 

जायदाद

विस्‍तृत जानकारी

निरीक्षण विधि

प्रतिरोधकता

0.5-1.5ωcm

वेफर निरीक्षण प्रणाली

एमसीएलटी (अल्पसंख्यक वाहक जीवनकाल)

50 माइक्रोन

सिंटन बीसीटी-400

(इंजेक्शन स्तर के साथ: 1E15 सेंटीमीटर-3)

 

3      रेखागणित

 

जायदाद

विस्‍तृत जानकारी

निरीक्षण विधि

रेखागणित

पूर्ण वर्ग


वेफर साइड लंबाई

166±0.25 मिमी

वेफर निरीक्षण प्रणाली

वेफर व्यास

φ223±0.25 मिमी

वेफर निरीक्षण प्रणाली

आसन्न पक्षों के बीच कोण

90° ± 0.2 डिग्री

वेफर निरीक्षण प्रणाली

सघनता

18020/10 माइक्रोन;

17020/10 माइक्रोन

वेफर निरीक्षण प्रणाली

टीटीवी (कुल मोटाई भिन्नता)

27 माइक्रोन

वेफर निरीक्षण प्रणाली


 166mmx166mm M6 solar wafer

 

 

4      सतह गुण

 

जायदाद

विस्‍तृत जानकारी

निरीक्षण विधि

काटने की विधि

डीएसडब्ल्यू

--

सतह की गुणवत्ता

के रूप में कटौती और साफ, कोई दिखाई संदूषण, (तेल या तेल, फिंगर प्रिंट, साबुन दाग, घोल दाग, epoxy/

वेफर निरीक्षण प्रणाली

देखा निशान/कदम

≤ 15μm

वेफर निरीक्षण प्रणाली

गज

≤ 40 माइक्रोन

वेफर निरीक्षण प्रणाली

ताना

≤ 40 माइक्रोन

वेफर निरीक्षण प्रणाली

टुकडा

गहराई ≤0.3 मिमी और लंबाई ≤ 0.5 mm अधिकतम 2/pcs;   कोई वी-चिप नहीं

नग्न आंखें या वेफर निरीक्षण प्रणाली

माइक्रो दरारें/छेद

अनुमति नहीं

वेफर निरीक्षण प्रणाली




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